Inicio / Histórico de Ofertas y Demandas / Patrón de calibración espacial y de conductividad en microscopios de fuerza atómica

Patrón de calibración espacial y de conductividad en microscopios de fuerza atómica

[ad_1]
Un investigador español ha desarrollado un procedimiento sencillo para fabricar patrones de calibración aptos para microscopios de fuerza atómica (AFM). Un único patrón sirve para calibrar la geometría y la corriente simultáneamente. Se buscan socios en la industria de fabricación de microscopios de fuerza atómica con el fin de licenciar la patente.

[ad_2]
Contenido Original

Visite también

Nueva tuerca para husillos de rosca y de bolas empleada en actuadores lineales

[ad_1] Una pyme británica fundada en 2013 ha desarrollado la primera tuerca para husillos de …