Patrón de calibración espacial y de conductividad en microscopios de fuerza atómica

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Un investigador español ha desarrollado un procedimiento sencillo para fabricar patrones de calibración aptos para microscopios de fuerza atómica (AFM). Un único patrón sirve para calibrar la geometría y la corriente simultáneamente. Se buscan socios en la industria de fabricación de microscopios de fuerza atómica con el fin de licenciar la patente.

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