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Patrón de calibración espacial y de conductividad en microscopios de fuerza atómica


Un investigador español ha desarrollado un procedimiento sencillo para fabricar patrones de calibración aptos para microscopios de fuerza atómica (AFM). Un único patrón sirve para calibrar la geometría y la corriente simultáneamente. Se buscan socios en la industria de fabricación de microscopios de fuerza atómica con el fin de licenciar la patente.


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