Microscopía de fuerza piezoeléctrica directa (DPFM)

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Una institución pública española ha desarrollado un microscopio de fuerza atómica (AFM) basado en un modo capaz de representar la carga piezoeléctrica generada mediante el efecto piezoeléctrico directo y obtener valores cuantitativos de la constante piezoeléctrica. Se trata de una herramienta fiable y precisa para comprender la dinámica de generación de la carga piezoeléctrica. Se buscan empresas con el fin de explotar el know-how mediante un acuerdo de licencia de patente.

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