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Microscopía de fuerza piezoeléctrica directa (DPFM)


Una institución pública española ha desarrollado un microscopio de fuerza atómica (AFM) basado en un modo capaz de representar la carga piezoeléctrica generada mediante el efecto piezoeléctrico directo y obtener valores cuantitativos de la constante piezoeléctrica. Se trata de una herramienta fiable y precisa para comprender la dinámica de generación de la carga piezoeléctrica. Se buscan empresas con el fin de explotar el know-how mediante un acuerdo de licencia de patente.


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